发布时间:2024-10-24编辑:pdmos浏览:0次
mosFET的雪崩击穿是指在其漏极和源极之间的电压超过其额定值时,内部电场强度剧增,导致载流子碰撞电离并产生大量电子-空穴对的现象。这一连锁反应类似于雪崩效应,因此得名。具体来说,当MOSFET承受过高的电压时,自由电子被加速并与晶格原子碰撞,产生更多的电子-空穴对,进而增加电流,最终可能导致器件失效。
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